Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de CdS depositadas por sublimación en espacio semicerrado
oleh: G. Cediel, L. M. Caicedo, M. Flórez, G. Gordillo
| Format: | Article |
|---|---|
| Diterbitkan: | Universidad Nacional de Colombia 1993-01-01 |
Deskripsi
In this work we study the effect of substrate and evaporation temperatures and substrate-evaporator distance on the phase and crystallographic orientation of CdS thin films prepared by the C.S.S. method using the x-ray diffraction technique.