Hasil Pencarian - Suruchi Sharma

  • Menampilkan 1 - 1 hasil dari 1
Perbaiki Hasil
  1. 1
    Interface trap charges associated reliability analysis of Si/Ge heterojunction dopingless TFET

    Interface trap charges associated reliability analysis of Si/Ge heterojunction dopingless TFET oleh Suruchi Sharma, Rikmantra Basu, Baljit Kaur

    Diterbitkan 2021-08-01
    Dapatkan teks lengkap
    Artikel
    Simpan ke Daftar
    Disimpan di:

Alat Pencarian: