Hasil Pencarian - Rajesh Doss

  • Menampilkan 1 - 1 hasil dari 1
Perbaiki Hasil
  1. 1
    Classification of Silicon (Si) Wafer Material Defects in Semiconductor Choosers using a Deep Learning ShuffleNet-v2-CNN Model

    Classification of Silicon (Si) Wafer Material Defects in Semiconductor Choosers using a Deep Learning ShuffleNet-v2-CNN Model oleh Rajesh Doss, Jayabrabu Ramakrishnan, S. Kavitha, S. Ramkumar, G. Charlyn Pushpa Latha, Kiran Ramaswamy

    Diterbitkan 2022-01-01
    Dapatkan teks lengkap
    Artikel
    Simpan ke Daftar
    Disimpan di:

Alat Pencarian: