Performance of novel VUV-sensitive Silicon Photo-Multipliers for nEXO oleh G. Gallina, Y. Guan, F. Retiere, G. Cao, A. Bolotnikov, I. Kotov, S. Rescia, A. K. Soma, T. Tsang, L. Darroch, T. Brunner, J. Bolster, J. R. Cohen, T. Pinto Franco, W. C. Gillis, H. Peltz Smalley, S. Thibado, A. Pocar, A. Bhat, A. Jamil, D. C. Moore, G. Adhikari, S. Al Kharusi, E. Angelico, I. J. Arnquist, P. Arsenault, I. Badhrees, J. Bane, V. Belov, E. P. Bernard, T. Bhatta, P. A. Breur, J. P. Brodsky, E. Brown, E. Caden, L. Cao, C. Chambers, B. Chana, S. A. Charlebois, D. Chernyak, M. Chiu, B. Cleveland, R. Collister, M. Cvitan, J. Dalmasson, T. Daniels, K. Deslandes, R. DeVoe, M. L. di Vacri, Y. Ding, M. J. Dolinski, A. Dragone, J. Echevers, B. Eckert, M. Elbeltagi, L. Fabris, W. Fairbank, J. Farine, Y. S. Fu, D. Gallacher, P. Gautam, G. Giacomini, C. Gingras, D. Goeldi, R. Gornea, G. Gratta, C. A. Hardy, S. Hedges, M. Heffner, E. Hein, J. Holt, E. W. Hoppe, J. Hößl, A. House, W. Hunt, A. Iverson, X. S. Jiang, A. Karelin, L. J. Kaufman, R. Krücken, A. Kuchenkov, K. S. Kumar, A. Larson, K. G. Leach, B. G. Lenardo, D. S. Leonard, G. Lessard, G. Li, S. Li, Z. Li, C. Licciardi, R. Lindsay, R. MacLellan, M. Mahtab, S. Majidi, C. Malbrunot, P. Margetak, P. Martel-Dion, L. Martin, J. Masbou, N. Massacret, K. McMichael, B. Mong, K. Murray, J. Nattress, C. R. Natzke, X. E. Ngwadla, J. C. Nzobadila Ondze, A. Odian, J. L. Orrell, G. S. Ortega, C. T. Overman, S. Parent, A. Perna, A. Piepke, N. Pletskova, J. F. Pratte, V. Radeka, E. Raguzin, G. J. Ramonnye, T. Rao, H. Rasiwala, K. Raymond, B. M. Rebeiro, G. Richardson, J. Ringuette, V. Riot, T. Rossignol, P. C. Rowson, L. Rudolph, R. Saldanha, S. Sangiorgio, X. Shang, F. Spadoni, V. Stekhanov, X. L. Sun, A. Tidball, T. Totev, S. Triambak, R. H. M. Tsang, O. A. Tyuka, F. Vachon, M. Vidal, S. Viel, G. Visser, M. Wagenpfeil, M. Walent, K. Wamba, Q. Wang, W. Wang, Y. Wang, M. Watts, W. Wei, L. J. Wen, U. Wichoski, S. Wilde, M. Worcester, W. H. Wu, X. Wu, L. Xie, W. Yan, H. Yang, L. Yang, O. Zeldovich, J. Zhao, T. Ziegler