Hasil Pencarian - Martin Rack

  • Menampilkan 1 - 2 hasil dari 2
Perbaiki Hasil
  1. 1
    Probe-Dependent Residual Error Analysis for Accurate On-Wafer MOSFET Measurements up to 110 GHz

    Probe-Dependent Residual Error Analysis for Accurate On-Wafer MOSFET Measurements up to 110 GHz oleh Lucas Nyssens, Shiqi Ma, Martin Rack, Dimitri Lederer, Jean-pierre Raskin

    Diterbitkan 2023-01-01
    Dapatkan teks lengkap
    Artikel
    Simpan ke Daftar
    Disimpan di:
  2. 2
    A SPDT RF Switch Small- and Large-Signal Characteristics on TR-HR SOI Substrates

    A SPDT RF Switch Small- and Large-Signal Characteristics on TR-HR SOI Substrates oleh Babak Kazemi Esfeh, Martin Rack, Sergej Makovejev, Frederic Allibert, Jean-Pierre Raskin

    Diterbitkan 2018-01-01
    Dapatkan teks lengkap
    Artikel
    Simpan ke Daftar
    Disimpan di:

Alat Pencarian: