Hasil Pencarian - Dimitri Lederer

  • Menampilkan 1 - 2 hasil dari 2
Perbaiki Hasil
  1. 1
    On-wafer wideband characterization: a powerful tool for improving the IC technologies

    On-wafer wideband characterization: a powerful tool for improving the IC technologies oleh Dimitri Lederer, Jean-Pierre Raskin

    Diterbitkan 2023-06-01
    Dapatkan teks lengkap
    Artikel
    Simpan ke Daftar
    Disimpan di:
  2. 2
    Probe-Dependent Residual Error Analysis for Accurate On-Wafer MOSFET Measurements up to 110 GHz

    Probe-Dependent Residual Error Analysis for Accurate On-Wafer MOSFET Measurements up to 110 GHz oleh Lucas Nyssens, Shiqi Ma, Martin Rack, Dimitri Lederer, Jean-pierre Raskin

    Diterbitkan 2023-01-01
    Dapatkan teks lengkap
    Artikel
    Simpan ke Daftar
    Disimpan di:

Alat Pencarian: