Hasil Pencarian - Chaiwon Woo
- Menampilkan 1 - 2 hasil dari 2
-
1
An experimental comparison of interface trap density in hafnium oxide-based FeFETs oleh Chaiwon Woo, Yannick Raffel, Ricardo Olivo, Konrad Seidel, Aleksander Gurlo
Diterbitkan 2023-12-01
Artikel -
2