Hasil Pencarian - Brajesh S. Yadav

  • Menampilkan 1 - 1 hasil dari 1
Perbaiki Hasil
  1. 1
    Non-destructive determination of ultra-thin GaN cap layer thickness in AlGaN/GaN HEMT structure by angle resolved x-ray photoelectron spectroscopy (ARXPS)

    Non-destructive determination of ultra-thin GaN cap layer thickness in AlGaN/GaN HEMT structure by angle resolved x-ray photoelectron spectroscopy (ARXPS) oleh Anshu Goyal, Brajesh S. Yadav, R. Raman, Ashok K. Kapoor

    Diterbitkan 2018-02-01
    Dapatkan teks lengkap
    Artikel
    Simpan ke Daftar
    Disimpan di:

Alat Pencarian: